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Cartões de Probes MµProbe - para elementos de contato MEMS e testes de wafer para aplicações de matriz completa de passo fino
Cartões de Probes MµProbe - para elementos de contato MEMS e testes de wafer para aplicações de matriz completa de passo fino

Cartões de Probes MµProbe - para elementos de contato MEMS e testes de wafer para aplicações de matriz completa de passo fino

Electronic Components

Sobre este produto

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Os cartões de sonda MµProbe® são caracterizados por elementos de contato MEMS e são particularmente adequados para aplicações de matriz completa de passo fino em testes de wafers.

Palavras-chave

Componentes elétricos e eletrônicosElementos de contato MEMSaplicações de matriz completa de passo fino
Logo
Verificado

FEINMETALL GMBH

Zeppelinstrasse 8, Herrenberg 71083
Alemanha
WebsiteVisitar o sítio Web
Entrega
Entrega: Mundial
Fundação
Fundação: 1964
Funcionários
Funcionários: 1000+
Tipo de fornecedor
Info
Produção
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