Cartões de Probes MµProbe - para elementos de contato MEMS e testes de wafer para aplicações de matriz completa de passo fino
Cartões de Probes MµProbe - para elementos de contato MEMS e testes de wafer para aplicações de matriz completa de passo fino

Cartões de Probes MµProbe - para elementos de contato MEMS e testes de wafer para aplicações de matriz completa de passo fino

Os cartões de sonda MµProbe® são caracterizados por elementos de contato MEMS e são particularmente adequados para aplicações de matriz completa de passo fino em testes de wafers.
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